晶元面处脱层 · 锡球、晶元、或填胶中之裂缝 · 晶元倾斜 · 各种可能之孔洞（晶元接合面、锡球、填胶…等） · 覆晶构装之分析 德国ksi声扫描显微镜c-sam(sat)机器 winsam vario iii 声扫描显微镜 1～500mhz ● 非破坏性材料内部结构测试 ● 快速的超声波频率设置 ● 全新的操作软件简单易用 ● 紧凑的模块化设计 ● 广泛应用于半导体工业，材料测试，生命科学等领域 非破坏性失效分析： 视觉效果 定量分析 自动控制 －3d形貌再现 －同时观察多个层面 －显示样品的机械性能（硬度，密度，etm100厂家，压力等） －实时超声波飞时图表（a-scan） －纵向截面图像（b-scan） －xy图像（c-scan， d-scan， 自动扫描， 多层扫描） －第二个---便于图像的观察和操作 －失效统计 －柱状图显示 －长度测量 －膜厚测量 －多方式图像处理 －超声波传输时间测量 －无损伤---测量 －数字信号分析 －相位测量 －自动xyz扫描 －自动存储仪器参数 －运用分层运算方法进行自动失效鉴别 －自动滤波参数设置 －换能器自动--- －高分辨率下自动进行高速扫描
c扫描系统可提供用于金属行业的多种超声波检测，整套扫描系统由机械、电气控制、超声等硬件和数据采集与后处理软件组成。可应用于: 航空航天，管材，金属，汽车和火车轨道，车轮和车轴等多个行业。
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磁致伸缩导波模式常用于普立克传感器，它是一种基于可调膜结构和可调磁场的传感器技术。这种技术首先利用磁域激发薄膜结构，在晶体表面上形成引力中心，磁场分布于晶体表面内部，然后再用磁场来调节引力中心，从而改变薄膜的结构，etm100公司，改变晶体的表面的角度。这种调节机制，不仅使薄膜的形状改变，而且可以改变晶体的物理参数，如膜厚、表面形状和弯曲率。 磁致伸缩导波模式的传感器还可以用于对非晶体表面，etm100，如金属表面或石墨表面，进行测量。可以根据膜层的特殊性质，调节膜层折射率，从而检测反射率变化等特征参量，从而得出不同物相间对应的参数值。 通过磁致伸缩导波模式控制的传感器，可以---增强对晶体表面形状、膜厚和石墨表面反射率的准确控制。它的优势在于，它的形状和参数可以随时间改变，可以改变晶体表面的结构参数。因此，磁致伸缩导波模式控制的传感器可以---地提升对薄膜的检测准确性和---性，提供---的实验数据。
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